杭研硬科普 | 走进芯片中的“微观世界”

雷达、通信、导航、天线、光电……这些高精度、高性能复杂电子装备的设计与制造水平，是国家整体科技水平与实力的重要体现。展现西安电子科技大学信息领域生力军的“硬实力”，传播电子信息领域的科学概念与前沿知识，西电杭州研究院推出“‘硬’科普”系列栏目，为大众阐述电子信息领域的那些事儿！本期栏目带您走进芯片中的“微观世界”。

芯片中的微观世界

芯片，一个耳熟能详的名字，它存在于生活的方方面面，大到飞机汽车小到手机电脑都拥有芯片，甚至连你的身份证里也有它的身影。复杂的芯片往往包含着各式各样的器件，不同的器件扮演着不同的角色，承担着不同的作用。器件的性能很大程度上决定了芯片的性能。

因此，对器件进行性能检测，是芯片实际应用的必经之路。那么该如何判断器件性能的好坏呢？

微观世界当然不能用眼睛看。今天给大家介绍的是keithley 4200半导体参数分析仪（含探针台），它通过探针对器件进行电学表征测试，通过测量器件的电流-电压、电容-电压等特性，提取衡量器件性能的关键参数，实现器件性能的评估。

除此以外，通过搭配不同的功能模块，可以实现在不同频率和温度下对器件进行性能表征，探索器件的稳定性和可靠性，为综合评价器件性能提供中重要参考。

面对后摩尔时代芯片发展的困境，学术界和产业界都在积极探索和应对，西电杭州研究院后摩尔器件与芯片实验室坚持国家需求牵引，聚焦微电子行业“卡脖子”难题，以降低功耗和提升算力为核心，开发超越玻尔兹曼限制的新型低功耗器件及集成技术；打破冯·诺依曼架构系统桎梏，实现算力提升的高能效存算一体器件和芯片，通过探索新原理、新材料、新结构等手段，实现低功耗、高能效的后摩尔时代新型器件及芯片，助力物联网、人工智能、大数据等信息技术和产业的发展。

来源｜西电杭州研究院

本文链接：https://www.bjjcc.cn/kepu/75817.html，文章来源：科普之家，作者：浙江省科学技术协会，版权归作者所有，如需转载请注明来源和作者，否则将追究法律责任！